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7 関係: イオン、エンリコ・フェルミ研究所、電子顕微鏡、電界放射顕微鏡、集束イオンビーム、SHRIMP、材料分析法の一覧。
イオン
イオン（Ion、ion）とは、電子の過剰あるいは欠損により電荷を帯びた原子または原子団のことである。電離層などのプラズマ、電解質の水溶液、イオン結晶などのイオン結合性を持つ物質内などに存在する。 陰極や陽極に引かれて動くことから、ギリシャ語のἰόνイオン, ローマ字表記でion（"going"）より、 ion（移動）の名が付けられた。.
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エンリコ・フェルミ研究所
ンリコ・フェルミ研究所（エンリコ・フェルミけんきゅうじょ、Enrico Fermi Institute、略称:EFI）は、シカゴ大学キャンパス内にある研究所である。 1945年9月にシカゴ大学の研究部門の一部としてInstitute for Nuclear Studies（原子核科学研究所）が設立され、初代所長にはサミュエル・キング・アリソンが就任した。その後、アメリカで活躍した物理学者エンリコ・フェルミの功績を讃えてEnrico Fermi Institute for Nuclear Studies（エンリコ・フェルミ原子核科学研究所）と改称し、1968年1月にはさらに短縮されてEnrico Fermi Institute（エンリコ・フェルミ研究所）の名称となり、現在に至る。.
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電子顕微鏡
電子顕微鏡（でんしけんびきょう）とは、通常の顕微鏡（光学顕微鏡）では、観察したい対象に光（可視光線）をあてて拡大するのに対し、光の代わりに電子（電子線）をあてて拡大する顕微鏡のこと。電子顕微鏡は、物理学、化学、工学、生物学、医学（診断を含む）などの各分野で広く利用されている。.
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電界放射顕微鏡
電界放射顕微鏡（でんかいほうしゃけんびきょう 英名:Field Emission microscope;FEM）は尖鋭化した試料先端部を陰極として電子を放射することにより、実空間実時間で観測できる投影型の顕微鏡。.
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集束イオンビーム
集束イオンビーム(FIB,Focused Ion Beam)は、イオンを電界で加速したビームを細く絞ったものである。 集束イオンビームは、微細加工、蒸着、観察などの用途に用いられる。.
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SHRIMP
SHRIMP(Sensitive High Resolution Ion Microprobe)とは二次イオン質量分析器を搭載したイオン顕微鏡である。 イオンを走査する事により、三次元的な同位体の分布を調べる事ができる装置で、Australian Scientific Instruments社とオーストラリア国立大学の共同で開発された。.
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材料分析法の一覧
材料分析法の一覧.
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