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6 関係: 加速度試験、平均故障間隔、パケット通信、コンバット・デルタ、Chipkill、RASGRP3。
加速度試験
加速度試験（かそくどしけん）とは、機械システムや情報システムなどにおける「信頼性」(Reliability) を決めるための試験。"加速劣化試験"等の誤用として使用されており、学術用語としては存在しない。 信頼度（寿命、MTBF、MTTRなど）を測るためには、実際のシステムや機器を多年にわたり動作させなくてはならない。しかしMTBF100万時間を1台で試すには114年かかる。100台では1年かかる。テストには莫大な費用と時間がかかる。そのため動作条件を厳しくして劣化を加速してテスト期間を短くすることを加速度試験という。 通常電子部品では電圧・電流・周波数・周囲温度などをあげ、機械部品では回転速度、温度、圧力、トルクなどを上げて測定して換算する。換算があるので信頼度は目安であり実際の動作でどうなるかは不明である。また「故障は通常の正規分布に従う」という仮定を置いているので、「べき分布」事象に準用された場合には単なる目安になる。.
平均故障間隔
平均故障間隔（へいきんこしょうかんかく）とは、機械システムや情報システムなどにおける信頼性（Reliability）をあらわす指標となる数値。英語のMean Time Between Failure(s)からMTBFと略される。.
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パケット通信
パケット通信.
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コンバット・デルタ
ンバット・デルタ(Combat Delta)は、株式会社東京マルイが電動ブローバックシリーズとして製造・販売しているエアソフトガン。実銃には存在しない架空のガバメントクローンである。.
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Chipkill
Chipkill(チップキル)はIBMの商標であり、ECCより進んだメモリ技術である。単一のメモリチップの破損および単一のメモリチップのあらゆる部分におけるマルチビットのエラーからコンピューターシステムを保護できる。ハミング符号化されたECCワードを複数のメモリチップに渡り分散するこの機能を達成するためのシンプルな仕組みであり、これによりあらゆる単一のメモリチップの破損による影響はひとつのワード中のECCビットにとどまるだろう。これによりメモリ上の内容は１つのチップの完全な損失にもかかわらず再構築することができる。典型的な実装にはより進んだ符号が用いられる。例を上げればBCH符号で、複数のビットをより少ないオーバーヘッドで訂正できる。サン・マイクロシステムズによる同等のシステムはExtended ECCと呼ばれる。ヒューレット・パッカードによる同等のシステムはSDDCと呼ばれる。 Chipkillはしばしば動的ビット退避(dynamic bit-steering)と組み合わされる。あるチップが損失あるいはビットエラーを引き起こしたとき、別の、スペアのメモリチップが使われ、損失したチップに置き換えられる。この概念はRAIDと類似している。これはディスクの損失から保護するものであり、単一のメモリチップに適用されるという点を除いて同じである。この技術はIBMにより1990年代初頭、あるいは半ばに開発された。重要なRASの機能として、ChipkillテクノロジーはSSDやメインフレームや中規模Unix、Linuxサーバーで用いられる。.
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RASGRP3
Rasグアニル放出タンパク質3（RAS guanyl-releasing protein 3、RasGRP3）は、ヒトのRASGRP3遺伝子にコードされているタンパク質である。 GTPアーゼのRASサブファミリーのメンバーは、シグナル伝達において不活性型であるGDP結合型と活性型のGTP結合型の間を循環するGTP/GDP-制御スイッチとして機能する。RASGRP3といったグアニンヌクレオチド交換因子 (GEF) は、GTP結合型を維持するためのGTPとの会合を促進することによってRAS活性化剤として働く。また、細胞膜受容体とRAS活性化の間の重要な鍵リンクである。.
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