テストパターンと標準信号発生器
ショートカット: 違い、類似点、ジャカード類似性係数、参考文献。
テストパターンと標準信号発生器の違い
テストパターン vs. 標準信号発生器
テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。 検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。また、ソフトウェアや集積回路の検証などにおいてテストパターンにより検証できる性質の割合を網羅率(あるいはテスト網羅率、コード網羅率)と呼ぶ。網羅率の高い検証のためには用意するテストパターンを慎重に設計する必要がある。また、テストパターン作成を効率よく扱うために自動的にパターンを生成する場合があり、自動テストパターン生成(ATPG、)などと呼ぶ。 また、製造した個々の製品の出荷検査用だけでなく、出荷後の運用・保守時に用いられるテストパターンもある。. 標準信号発生器(SSG:Standard Signal Generator)は、標準器により校正された、周波数・電力・変調の電気信号を出力する電気計測器である。略してSGとも呼ばれる。シグナル・ジェネレータ、テスト・オッシレータとも呼ばれる。.
テストパターンと標準信号発生器間の類似点
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テストパターンと標準信号発生器の間の比較
標準信号発生器が29を有しているテストパターンは、15の関係を有しています。 彼らは一般的な0で持っているように、ジャカード指数は0.00%です = 0 / (15 + 29)。
参考文献
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